本儀器符合GB/T 1410-2006

儀器詳細(xì)介紹：

一、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀特點(diǎn)
 
本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí) 直接顯示流過(guò)被測(cè)電阻的電流。電阻量限從1×104Ω～1×1018Ω， 電流測(cè)量范圍 為2×10-4A～1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及 絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量電流如電子器件暗電流等。
 

二、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量指標(biāo)
 
 
1  電阻測(cè)量范圍 1×104Ω～1×1018Ω；
2  電流測(cè)量范圍 2×10-4Ａ～1×10-16Ａ；
3 體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
4  *的被測(cè)電阻、和流過(guò)電阻的電流雙顯示，使操作測(cè)量更加方便；
5  性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
6  既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
7  測(cè)試電壓有六種選擇之多DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
8  使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，
免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電
阻樣簡(jiǎn)便。

 
三、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀主要應(yīng)用范圍

 
a    材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì) 算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等）電阻值的檢測(cè)；
b    材料體電阻（率）和表面電阻（率）測(cè)量；
c    電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;
d    微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

四、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

1.   電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十個(gè)量程。
2.   電流測(cè)量范圍為2×10-4A ～1×10-16A
3.  全數(shù)字液晶屏顯示。
4.  準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表:

量程 有效顯示范圍 20～30℃ RH<80%
104 0.01~19.99 1%
105 0.01～19.99 1%
106 0.01～19.99 1%
107 0.01～19.99 1%
108 0.01～19.99 1%
109 0.01～19.99 1%
1010 0.01～19.99 5%+2字
1011 0.01～19.99 5%+2字
1012 0.01～19.99 5%+5字
1013 0.01～19.99 10%+5字
1014 0.01～19.99 10%+5字
1014以上 0.01～19.99 10-15%+5字
（ 超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加）
測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同）
測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%
5. 使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃ 相對(duì)濕度<90%。
6. 測(cè)試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7. 供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W。
8. 儀器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。
9. 質(zhì)量: 約3.0KG。

五、名詞術(shù)語(yǔ)

1） 絕緣電阻：施加在與試樣相接觸的二電極之間的直流電壓除以通過(guò)兩電極的總電流所得的商。它取決于體積電阻和表面電阻。
2） 體積電阻：在試樣的相對(duì)兩表面上放置的兩電極間所加直流電壓與流過(guò)兩個(gè)電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商；該電流不包括沿材料表面的電流。在兩電極間可能形成的極化忽略不計(jì)。
3） 體積電阻率：絕緣材料里面的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電阻。
4） 表面電阻：在試樣的某一表面上兩電極間所加電壓與經(jīng)過(guò)一定時(shí)間后流過(guò)兩電極間的電流之商；該電流主要為流過(guò)試樣表層的電流，也包括一部分流過(guò)試樣體積的電流成分。在兩電極間可能形成的極化忽略不計(jì)。
表面電阻率：在絕緣材料的表面層的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與線電流密度之商，即單位面積內(nèi)的表面電阻。

六、測(cè)量技術(shù)

a.通常，絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對(duì)地絕緣，固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻，并具有合適的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。

b.絕緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導(dǎo)電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測(cè)量結(jié)果就會(huì)發(fā)生很大的誤差。同時(shí)絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果也有很大影響。

c.影響體積電阻率和表面電阻率測(cè)試的主要因素是溫度和濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測(cè)量常常用來(lái)檢查絕緣材料是否均勻，或者用來(lái)檢測(cè)那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)。

d.由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測(cè)試中去，因此只能近似地測(cè)量表面電阻，測(cè)得的表面電阻值主要反映被測(cè)試樣表面污染的程度。所以，表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù)，而是一個(gè)有關(guān)材料表面污染特性的參數(shù)。當(dāng)表面電阻較高時(shí)，它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測(cè)量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時(shí)間。

七、使用注意事項(xiàng)： 
 高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。 
１、 應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零  如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。 
２、 禁止將“Ｒｘ”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊 
３、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓，  隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器，而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由于電流不是線性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。
４、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔  每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔!
５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化  由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。 
６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分  本儀表有二連根線：高壓線（紅）和微電流測(cè)試線。在使用時(shí)要注意高壓線，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。
７ 、測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端  微電流測(cè)試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。 
８、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽．  在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。
９、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“１０４ ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試  在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。