絕緣材料介質損耗測試儀推薦滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻 下電容率和介質損耗因數的推薦方法。

高頻介質損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*解決方案。

1、《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

2、基于串聯諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數碼化主調電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態(tài)下的特征。GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩(wěn)定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

3、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)，實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的精確度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算*的。

4、一個高品質因數（Q)的電感器是測量系統(tǒng)*的輔助工具，關乎測試的靈敏度和精度，在系統(tǒng)中它與平板電容（BH916）構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。

絕緣材料介質損耗測試儀推薦一覽表

BH916測試裝置                                         GDAT高頻Q表

平板電容極片 Φ50mm                                  可選頻率范圍20KHz-60MHz、

間距可調范圍≥15mm                                   頻率指示誤差3×10-5±1個字

夾具插頭間距25mm±0.01mm                              主電容調節(jié)范圍30-500

測微桿分辨率0.001mm                                  主調電容誤差<1%或1pF

夾具損耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                     Q測試范圍2～1023

標準配置：

高配Q表 一只 

試驗電極  一只 （c類）

電感      一套（9只）

電源線    一條

說明書    一份

合格證    一份

保修卡    一份

Dielectric loss and dielectric constant are various electrical porcelain, porcelain, such as ceramic capacitor, and an important composite materials

Physical properties, by measuring dielectric loss Angle tangent tan delta and dielectric constant (epsilon), can further understand the effect of dielectric loss

And the dielectric constant of various factors, provide a basis for improving the performance of the material; The basic principle of instrument is using the high frequency resonance method,

And offers a general, multi-purpose, multiscale impedance test. It in a single chip computer as the instrument control, measurement of core

Digital lock with the frequency, standard frequency test point set automatically, resonance point automatic search, Q value range automatic conversion, numerical values

Display new technology, such as improved tuning loop, the tuning test circuit minimizes the residual inductance, and keep the original Q meter

In automatic steady amplitude etc technology, makes the new instrument when use more convenient, more precise measurement values. At higher test instrument

Frequency under the condition of measuring the high frequency inductive or Q value of resonance loop inductance and distributed capacitance of inductance and capacitor of the power

Capacity and loss tangent value, electrical material of dielectric loss at high frequency, high frequency circuit effectively in parallel and series resistance, of a transmission line

The characteristic impedance, etc.

The equipment is used for scientific research organs, schools, factories and other units on the properties of inorganic nonmetal materials applied research.